电讯技术

北大核心,INSPEC,WJCI

国内刊号:51-1267/TN

国际刊号:1001-893X

电讯技术杂志2025年第8期:非对称任意阵列干涉仪测向方法

发布日期:

作者:朱子翰

单位:(西南电子技术研究所,成都 610036)

关键词:平面阵列;干涉仪测向;二维测向;增益非对称;

针对当前干涉仪测向技术中测向精度和解模糊概率易受基线选择影响,以及天线阵元尺寸和侦测距离受限的问题,提出了一种非对称干涉仪测向方法。该方法通过构造增益非对称的几何阵列,结合一种普遍适用于任意平面阵列干涉仪的二维测向方法,显著优化了测向性能。具体而言,就是利用高增益天线的信号相关性提取干涉仪阵列间的相位差信息,并通过构建相位差代价函数,采用最小方差迭代算法来准确计算出来波方位。实验结果表明,该方法实现的有效探测距离可达传统干涉仪的2倍以上,且对干涉仪阵列的构型无特殊要求。此外,该方法无需刻意解相位差模糊问题,其测向精度较传统干涉仪相差0.1°以内。

来源:2025年第8期

《电讯技术》期刊编辑部

查看电讯技术杂志2025年第8期

声明

严正声明:本站非期刊官网,非中介代理。

本站仅提供学术规范服务:快速预审、润色编辑服务、中英文查重、降重、去重服务、推荐合适的期刊投稿等学术规范服务。 如需提供学术规范服务请联系在线编辑。

联系我们

  • 地址:四川省成都市金牛区营康西路85号
  • 电话:028-87555632
  • E-mail:dxjs@cetc.com.cn

咨询工作人员