电讯技术

作者：李旭

单位：(中国西南电子技术研究所，成都 610036)

关键词：相控阵测控系统；瓦式一体化T/R组件；盲插互联结构；

T/R组件作为相控阵测控系统的核心部件，其性能好坏直接决定了相控阵测控系统的效能表现。针对传统相控阵测控系统中采用的砖式T/R组件设计存在的集成度低、尺寸大、功耗高、安装复杂、后期维护性差等问题，设计了一种新型瓦式一体化T/R组件。该型T/R组件通过多层不同功能模块的瓦片式层叠和盲插互联结构实现了T/R组件高度的集成化、良好的散热性以及优异的安装维护性能。随着相控阵测控系统的通道数越来越多，集成度越来越高，新型瓦式一体化T/R组件的工程优异性也将会更加明显。

来源：2023年第1期

《电讯技术》期刊编辑部

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