国内刊号:51-1267/TN
国际刊号:1001-893X
发布日期:
作者:王鹏,刘正清,田毅
单位:(中国民航大学 安全科学与工程学院,天津 300300)
关键词:机载电子设备;单粒子翻转(SEU);容错方法;有效配置位;
基金:中国民航大学实验室创新基金(2020CXJJ42)
机载电子设备中广泛采用的静态随机存储器(Static Random Access Memory,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)易受到大气中子辐射的影响而发生单粒子翻转。为了提高抗干扰能力,针对SRAM型FPGA需要进行抗单粒子翻转防护,提出了一种Xilinx FPGA有效配置位的保护方法。该方法提取电路中的有效配置位,纠错电路检测到电路中发生单粒子翻转时,纠正有效配置位上发生的翻转。实验表明该方法可以有效保护Xilinx FPGA的有效配置位并提高了纠错电路的效率。
来源:2022年第3期
《电讯技术》期刊编辑部