电讯技术

北大核心,INSPEC,WJCI

国内刊号:51-1267/TN

国际刊号:1001-893X

电讯技术杂志2019年第12期:平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用

发布日期:

作者:杨顺平,朱晓林

单位:(中国西南电子技术研究所,成都 610036;航天系统部 装备部军代局,北京100081)

关键词:相控阵天线;幅相性能测试;平面近场诊断;矢量旋转;

传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦,得到的检测值为所有通道叠加的结果,不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦,提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法,理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差分析,得到了各个误差源对该方法的影响大小。通过实验验证,证明了该方法有效地减小了互耦影响,能提取单个通道的近场、远场信息,并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段。?

来源:2019年第12期

《电讯技术》期刊编辑部

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